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JESD22-A108
Temperature, Bias, and Operating Life. JESD22-A108D. (Revision of JESD22-A108C, June 2005). NOVEMBER 2010. JEDEC SOLID STATE TECHNOLOGY ASSOCIATION ...
14 页·49 KB
寿命試験(JEDEC JESD22-A108). 寿命試験は、極端な温度および動的な電圧バイアス条件での使用により熱的に活性化される不良メカニズムを加速するテストによって、短期 ...
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1 页·13 KB
JESD22-A108. HTRB1. Ta = 150 °C. VDS = 600 V. 1000 h. 3 x 77. 22 / 231. Cond. PASS. Positive High Temperature Gate Stress. JESD22-A108. HTGF1. Ta = 150 °C.
JEDEC STANDARD Temperature, Bias, and Operating Life JESD22-A108-B (Revision of JESD22-A108-A) DECEMBER 2000 JEDEC SOLID STATE TECHNOLOGY ASSOCIATION NOTICE ...
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JESD22-A102. 22. 0. 負荷寿命. 25℃ , Pc=Pc max. , 1000時間. -. 22. 0. 高温逆バイアス. Ta=Tstg max. , 規定のバイアス , 1000時間. JESD22-A108.
4 页·321 KB

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